5050RGBW：浅谈国际LED相关标准

发布日期：2018-05-17 作者：普朗克光电点击：

目前，随着5050RGBW半导体照明产业的快速发展，国际间相当重视LED测试标准的制订。如美国国家标准检测研究所（NIST）正在开展LED灯珠测试方法的研究，准备建立整套的LED测试方法和标准。日本也成立了「白光LED测试研究委员会」，专门研究照明用白光LED的测试方法和技术标准。

世界发达国家为了抢佔LED先机，在LED标准和测试方面都投入了大量的人力物力，在标准方面注重选择LED特性参数及测试方法研究。同时，许多国外大公司的研究和开发人员正在积极参与国家和国际专业化组织，制订半导体照明测试标准。比方说过去美国Lumileds与日本Nichia就宣佈过双方进行各自LED技术的交叉授权，并准备联合制订功率型LED标准，以推动市场应用。

照明LED标准及检测技术的现状国际照明委员会（CIE）和国际电工委员会（IEC）都没有关于LED照明的标准。严格地说，国外目前没有专门命名为半导体照明的标准，只有有关普通LED的测试标准和与普通光源有关的照明方面的标准。普通LED的测试标准有：
1.IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半导体分立器件及积体电路
2.IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)
IEC60747-5-2分立半导体器件及积体电路零部件5-2：光电子器件—分类特徵及要素(1997-09)
3.IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半导体器件及积体电路
零部件 5-3：光电子器件—测试方法(1997-08)
4.IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半导体分立器件12-3：光电子器件—显示用发光二极体空白详细标准（1998-02）
5.CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED测试方法（1997）
6.CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISO LED强度测试标准

国际照明委员会（ CIE）1997年发表 CIE127-1997 LED测试方法，把 LED 强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，这样就为 LED 准确测试比对奠定了基础。虽然CIE 127－1997 测试方法并非国际标准，但它容易实施准确测试比对，目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的快速发展，许多新的 LED技术特性 CIE127-1997 LED测试方法没有涉及。